DM2300型 X荧光分析仪

产品简介

专门针对RoHS/ELV/玩具/包装/首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量 
能同时测量Cl/Cr/As/Se/Br/Cd/Sb/Ba/Hg/Pb等元素 

DM2300型X荧光分析仪（或称X荧光光谱仪），仪器采用了能量色散X射线荧光分析技术，能分析从铝(原子序数13)到铀(原子序数92)的所有元素，对大多数元素分析的含量可低至1ppm高至***，还能进行镀层厚度测量。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作简便、只需一次性投资、***等特点，故广泛应用于电子电气、建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。

主要技术指标
1. 分析元素种类：Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等。
2. 有害元素及卤素含量分析范围： 5～3000ppm。
3. 系统分析时间： 300s (典型值)。
4. 分析精度：理想状态下，测量精度为2～3ppm；
　　　　　　　一般状态下，测量相对误差为10%。
5. 检出限： ≤2 ppm。
6. X射线光管： 高压：≤50kV， 电流：≤1mA，均连续可调。
7. 准直器： Ф1mm、Ф3mm、Ф5mm、Ф7mm共4个可自动切换。
8. 系统能量分辩率： 对于MnK5.9keV的X射线，其半高宽：≤155 eV。
9. 长时间稳定性： 开机1小时后，整机8小时稳定性：峰位和峰面积相对标准偏差均小于0.1%。
10. 样品室体积： 长×宽×高：480 mm×350 mm×125mm。
11. 使用条件： 环境湿度：5～30℃，相对湿度≤80%(25℃)，供电电源：220±20V，50Hz。
12. 整机功耗： ≤150W。
13. 尺寸与重量： 长×宽×高：503 mm×412 mm×478mm；重量：45Kg。

仪器特点：
1. 采用EDXRF物理分析方法，分析中不接触、不破坏样品，无需化学试剂等其他辅助材料。
2. 多元素同时快速分析，一般几分钟给出Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等元素的ppm含量结果。
3. 采用X光管激发，光管高压的电压和电流可调，使仪器达到的激发效率和的计数率。。
4. 具有4个滤色片和4个准直器，可任意自动转换组合，使仪器达到的计数率和的峰背比，从而有极高的精度和很小的检出限。
5. 采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰。
6. 采用高分辨率的CCD摄像头，样品平台可移动，从而***测量目标位置的准确。
7. 由计算机进行显示、操作和数据处理，从而使操作简便，分析快速准确。
8. 仪器集成化程度高，可靠性好，维修方便。环境适应能力强，长期稳定性好。
9. 采用内标方法及具有自主知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品。
10. 样品室体积大，能测量大件物品。
11. 价格功能比低，适合我国国情。
12. 设计对屏蔽防护极好，无三废公害，射线防护***。