水果无损质量测定仪厂商

水果无损质量测定仪JZ-750简介

    JZ-750农产品质量测定仪是一款用于分析与农产品品质密切相关的农产品内部及外部特性的测量仪器。

NIR（近红外测定）技术在成套设备中的应用可为我们提供客观量化的质量标准，已在生产中应用多年。我

们便携式供电设备把近红外分析技术带给田间种植者，为作物收割前提供更好、更一致的作物成熟度的测定。

JZ-750可进行物质的定量估算（如叶绿素）、确定多种物质的特性（如成熟度、TSS可溶性固形物、DM糖）

并进行定性分析（如风味指数、个人偏好指数）。

应用领域

    主要应用于果实成熟度和甜度相关参数的无损评估，包括田间作物管理和收获期评估、果实储藏、果实

催熟及果实零售的各个环节。收获前成熟度评估,采后质量检验等。

水果无损质量测定仪JZ-750主要功能

1、可测量可溶性固形物（糖度）、干物质、内部颜色、外部颜色、可滴定酸等指标

2、带全球定位系统，便于裁剪制图

3、野外可视半透显示屏

4、充电/更换电池

5、SD卡数据存储

水果无损质量测定仪JZ-750工作流程

一、构建模型

1、JZ-750农产品质量测定仪可以对10-200种水果的品质进行测定

2、利用可选择性测量方法非破坏性测量每种水果的质量参数（如：利用折射计测定白利糖度）

3、内置建模软件可结合步骤1和步骤2的测量数据创建新的模型

4、JZ-750可利用新创建的模型对感兴趣参数进行无损估计

5  JZ-750可以使用多种模型创建自定义质量指标，例如：结合受试农产品的糖度、颜色、酸度和干物质量等

综合指标可确定受试农产品的食用质量指标。

二、计算测量值

6、与传统光谱仪（利用光谱波段的比值进行计算）不同，JZ-750利用使用者或软件选取在310-1100nm光谱范

   围内的光谱集建立PLS模型进行计算。

7、软件模型采用非线性迭代偏最小二乘回归（NIPLS）建立权重系数来衡量已知参数与不同波长间的关系。

   JZ-750可计算出样品的二阶导数光谱并应用各波长的权重系数获取实际测量图谱。 

量化的测量精度 (确定测量精度)

    JZ-750结合了所选光谱集与样品光谱间的实际差异，以及预期权重系数，从而为每次测量提供了一个***

的置信度。）

水果无损质量测定仪JZ-750主要技术参数

光谱仪：卡尔蔡司MMS-1光谱仪

光谱范围：310-1100 nm

光谱样点大小: 3 nm

光谱分辨率：8-13 nm

光源：钨氙灯

镜头：镀膜增益近红外线镜头

快门：镀金参考标准

显示：光下可见液晶屏

PC接口：USB SD卡

 记录每次测量参数：原始数据，反射，吸收，一阶导数吸收，二阶导数吸光度数据

电源：可拆卸3100 mAh锂离子电池

电池寿命：大于1600次

数据存储：可拆卸4GB SD卡

机箱：电镀铝

重量：1.05 kg