1.1 系统概述

EN-2005C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统，本系统可自动生成功率器件的I-V曲线，也可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统在失效分析，IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立，***了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来，数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究，是一款高效多功能的高端半导体测试设备。

本系统使用方便，只需要通过USB或者RS232与电脑连接，通过电脑中友好的人机界面操作，即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL和WORD的格式保存。系统提供过电保护功能，门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。对诊断设备状态和测试结果提供了可靠地***。

1.2 EN-2005C测试仪指标

 1.测 试 电 压： ≤2KV
     2.测 试 电 流： ≤50A
     3.电 压分辨率： 1mV
     4.电流 分辨率： 0.1nA             
     5.测 试 精 度： 0.2%+2LSB

1.3 测试范围

1．双向可控硅（TRIAC）           

2．MOS场效应管（Power MOSFET）

3．绝缘栅双***功率晶体管（IGBT）

4．结型场效应管 （J-FET ）

5．晶体管（Transistor）           

6．达林顿阵列(Darliknton)       

7．稳压（齐纳）二极管（Zener）    

8．二极管(Diode)  

9．可控硅整流器（SCR ）           

10．三端稳压器（REGULATOR ）

11．光电耦合器（OPTO-COUPLER）     

12．双向触发二极管  （DIAC)

13．固态过压保护器（SOVP）        

14．继电器（RELAY）

1.4系统软件支持

器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为Windows或WindowsNT的PC机上YB6600接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成，具有全屏显示和增强型编辑帮助。

    一种填空式编程方法向用户提供简明、直观的使用环境。操作人员只需在提示下，输入所选器件系列名称和测试类型，并选择所需测试的参数，而不必具有专业计算机编程语言知识。完成一个器件的测试程序编制只需几分钟的时间，非常快捷方便。