<>四探电阻率/方阻测试仪（低阻）&nbs;型号:KD09-KDY-1<>库号：M236901<>（1）仪器采用GB/T 1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探法
（2）围：电阻率10-5～10+3欧姆·厘米，分辨率为10-4欧姆·厘米
方块电阻10-4～10+4欧姆/□，小分辨率为10-3欧姆/□
（3）测材料：半导体材料硅锗棒、块、片、导电薄膜等
准测的半导体尺寸：直径≥20㎜
测的半导体尺寸：直径≥8㎜
（4）测方式：平面测。
（5）电压表：双数字电压表，同时观察电流、电压变化
A.电流表程0~199.99 mV，电压表程0~19.999 mV
B.电压度：1μv和10μv
C.基本误差±(0.004%读数+0.01%满度)
D.输入阻抗﹥1000MΩ
E. 4 1/2位数字，0～19999
（6）恒流源：
A.电流：直流电流0.003～100 mA连续调，由交流电源供给
B.程：10uA，100uA，1 mA，10 mA，100 mA五档
C.恒流源精度：各档均≤±0.05%
（7）四探测试探头
测电阻率的小游移探头,实用号ZL 03 2 74755.1。使用几何尺寸十分的红宝石轴承，具精度的硬金探，在宝石导孔内运动，持久，精度。
A.探头间距1.59㎜&nbs;
B.探机械游率：±0.3%
C.探直径0.8㎜&nbs;
D.探材料：碳化钨，探间及探与其他部分之间的缘电阻于109欧姆。
（8）手动测试架：KDJ-1A 型手动测试架探头上下由手动操作，以用作断面单晶棒和硅片测试，探头上下移动距离：120mm，测试台面200x200(mm)。
（9）精度
电器精度：1-1000欧姆≤0.3 %
整机测精度：1-500欧姆·厘米≤3%
（10）电流：220V±10%，50HZ，功率耗﹤35W
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