半导体芯片冷热冲击试验箱壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆分为高温室、低温室、测试室三部分,采独特之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物完全静止，应用冷热风路切换方式将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。采用触控式液晶（LCD）显示人机介面专用控制器，Xian进的计测装置,操作简单,学习容易,稳定可靠,中，英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59大分钟,循环周期1~999次可设定,可实现制冷机自动运转，大程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行。

半导体芯片冷热冲击试验箱结构特点: 

1．产品外形美观、结构合理、工艺***、选材考究。

2．箱体左侧具有50mm之测试孔1个，可供外加电源负载配线测试部件。

3．可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。具备全自动，高密系统回路、任一机件动作，完全有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高。

4．独特的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角;完备的安全保护装置，避免了任何可能发生安全隐患，***设备的长期可靠性

5．可设定循环次数及除霜次数自动（手动）除霜.

6．出风口于回风口感知器检测控制，风门机构切换时间为10秒内完成，冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。

7．周全的安全保护装置，发生异常状况时,荧幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。

8．冷冻系统采用二元高效低温回路系统设计，采用德国原装进口压缩机，并采用对臭氧系数为零的绿色环保（HFC）制冷剂R507，R23.

9．保护功能：电源过载保护、漏电保护、控制回路过载、短路保护、压缩机保护、接地保护、超温保护、报警声讯提示等。

10．箱体内外部材质采用不锈钢板（SUS#304）

11．不需要使用液态气体（LN2LCO2）辅助降温，待测物完全静止测试方式是当前电子部品测试用，研究用以及半导体生产线大量筛选用，可大量节省耗材测试费用。操作快捷、高信赖，是本公司经多年潜心倾力研究，开发高性能试验机，提供您长期可靠的试验工具。

半导体芯片冷热冲击试验箱性能特点：

1．气动式阀门方便开启，***气密及断热保护；

2．试验槽完全静止，可由测试孔外加负载配线；

3．蓄能方式可避免使用者职业伤害；（注：液态气体所产生的废气，吸入肺部致使肺部氧气量减少，而产生工作倦怠，注意力不集中等）

4．采用触控式彩色液晶显示人机接口控制器，操作简单，学习容易；

5．温度制御精度高，全部采用PID自动演算制御；

6．可选择始动位置，高温或低温开始循环；

7．具有预约起动功能；

8．可设定循环次数及自动除霜；

9．运动状态显示；

10．有异常或者故障显示及排除方法说明；

11．符合标准：GB/T2423.1.2GB10592-89GJB150等

半导体芯片冷热冲击试验箱用途：

    艾思荔半导体芯片冷热冲击试验箱又称为高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，***工业、航天、兵工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。