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针对大样品设计的非接触测试分析系统灵活测量大尺寸样品,满足高难度测量角度的***测量高效的三维表面信息测量垂直方向纳米分辨率提供更多的细节快速获取测量数据,测试过程迅速高效

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产品推荐
产品特性:Bruker是否进口:否产地:德国
加工定制:是品牌:Bruker型号:NPFLEX 三维表面测量系统
订货号:111货号:1111测量范围:对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据存储行业等,提供全方位非接触式测量方案,样品
测量精度:0.01nm尺寸:60*60mm重量:200kg
是否跨境货源:否
NPFLEX 三维表面测量系统


NPFLEX 三维表面测量系统


针对大样品设计的非接触测试分析系统


灵活测量大尺寸样品,满足高难度测量角度的***测量高效的三维表面信息测量

垂直方向纳米分辨率提供更多的细节快速获取测量数据,测试过程迅速高效


NPFLEX


为大尺寸工件精密加工提供准确测量工具 航空发动机叶片涂层


布鲁克的NP TM 3D表面测量系统为精密制造业带来***的检测性能,实现更快的试产扩量时间,提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理,这套非接触系统提供了诸多***的优点,远超通常接触式坐标测量仪(CMM)和工业级探针式轮廓仪的测量技术所能 提供的。这些测量优势包括高分辨的三维图像,进行快速丰富的数据采集,帮助用户更深入地了解部件的性能和功能。积累几十年的干涉技术和大样品测量仪器设计的经验,NP TM 是***个可以灵活地测量大尺寸样品的光学测量系统,而且能够高效快捷地获得从微观到宏观等不同方面的样品信息。


其灵活性表现在可用于测量表征更大的面型和更难测的角度


? 创新性的空间设计使得可测零件(样品)更大(高达 330 毫米)、形状更多


? 开放式龙门、定制的夹具和可选的旋转测量头可轻松测量待测部位


高效的三维表面信息测量


? 每次测量均可获取整个表面高度信息,用于各种分析


? 更容易获得更多的测量数据来帮助分析


垂直方向纳米分辨率提供更多的细节


? 干涉技术实现每一个测量象素点上的亚纳米级别垂直分辨率


? 工***使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据,为日渐苛刻的加工工艺提供保障


测量数据的快速获取***了测试的迅速和高效


? 最少的样品准备时间和测量准备时间


? 比接触法测量(一条线)更大的视场(一个面)获得表面更多的数据


测量不同尺寸、规格的样品,操作灵活,***高效

通常情况下,测量比较大的样品或者特殊形状、特定表面的样品时,往往花费较长的时间对样品进行切割处理, 才可进行测量。如今,开发出新型的NP TM测量系统,拥有超大测量空间,可测13英寸(330毫米,这种创新  性的空间设计,可以测量更大尺寸、更复杂形状的样品。开放式龙门、定制的夹具和可选的旋转测量头可轻松测量   样品待测部位。开放式结构与Bruker的光学镜头,实现了***工作距离下获得理想的数值孔径。这使得NP TM


善于测量深沟,高纵横比的孔洞,或表面高低起伏比较大的样品。


***品质,坚如磐石

NPFLEXTM 整体设计坚固耐用,大理石机台可以承受最重高达 170 磅(77 千克)的样品。龙门架设计可以隔绝来至工厂地面的噪音,集成的气浮平台使得仪器能在微小尺度下保持良好重复性。物镜保护系统能在各个方  向防止物镜和样品碰撞。在实验过程中,使用 NPFLEXTM,对于样品大小,取样过程以及实验环境的要求,都相对宽松很多,使得实验可以灵活简便的完成,帮助生产者获得产品性质的精密数据。



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