CAMTEK  自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用

碳化硅碳化硅晶片是未来一代半导体材料,具有独特的电学性能和优异的热性能。 与硅片和砷化镓晶片相比,碳化硅晶片更适合高温和高功率设备应用程序。
Camtek开发专用的检验和计量解决方案,以及分析工具来解决这一新兴市场。

功能

?处理透明材料区域使用黑暗查克在晶片上
?背光查克的早期阶段的过程
?朋友处理透明的晶片
?eef——边缘控制能力
?自动缺陷分类(ADC)基于收益管理的深度学习
?弓测量
?预测收益率-晶圆缺陷位置精度<2um

技术

?sts -表面形貌传感器
?背光

产品

EagleT-AP

为***的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。

EagleT-i

设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个最快的和最***的2 d检查工具在市场上。