美国博曼台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪，为您提供准确、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。

Bowman BA-100 Optics 机型采用***的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点***的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD(硅漂移探测器),有效拓展元素分析范围,适应严格的微区、超薄镀层,以及痕量元素分析需求。

只需轻轻按一下激光对焦按钮,就可自动进行对焦。对于测量有高低差的样品时,配置了为防止样品和仪器冲撞的自动停止功能。

博曼X射线膜厚测试仪,可对应于含无铅焊锡在内的合金电镀或多层电镀的测量,应用范围广泛。

利用Microsoft的Office操作系统可将检测报告工作之便简单快速地打印出来。