| 是否进口:否 | 产地:美国 | 加工定制:否 |
| 品牌:Filmetrics | 型号:F20 | 测量范围:1nm-10mm |
| 测量精度:0.02nm-1nm | 用途:膜厚测试,光学常数测试 | 标准装箱数:1pcs |
| 工作温度:室温°C | 重量:30Kg |
不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装,通过USB连接电脑,设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点,F20适用于各种应用。
测量厚度从 1nm 到 10mm 的***膜厚测量系统
不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数,还是想要知道材料的反射率和透过率,F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装,通过USB连接电脑,设备就可以在数秒内得到测量结果。基于模块化设计的特点,F20适用于各种应用。
F20能测量什么
薄膜特性:厚度、反射率、透射率、光学常数、均匀性、刻蚀量等
薄膜种类:几乎所有透明及半透明薄膜,常见如氧化物、聚合物甚至空气
薄膜状态:固态、液态和气态薄膜都可以测量
薄膜结构:单层膜、多层膜;平面、曲面
膜层范例
基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。
这包括几乎所有的电介质与半导体材料,例如:
SiNX TiO2 DLC
光刻胶SU-8 聚合物 有机电致发光器AIQ材料
非晶硅 ITO 硒化铜铟镓CIGS
软件功能以使用者为导向
随设备包含的FILMeasure软体组合为您提供了***控制程度并切合您的需求。需要进行更深入的薄膜研究。FILMeasure软件已内建数干种不同材料的数据库,也让您能够很容易地测量新材料的折射率。
1. 搭配可选配的样品摄像头,能在测量的过程中整合测量点位置并识别样品。
2. 互动式的使者界面能让用户选择想要显示或隐藏的功能。
3.全方位的历记录功能可以让用户迅速回复历史资料,绘制统计资讯及量测趋势。
应用实例:
| 企业类型 | 有限责任公司(自然人独资) | 注册资本 | 500.00万人民币 |
| 公司注册地址 | 北京市北京经济技术开发区天华北街11号院1号楼13层1302-8室 | 统一社会信用代码 | 91110302MA01UHCN2D |
| 登记机关 | 北京经济技术开发区市场监督管理局 | 法定代表人 | 石伊晴 |
| 公司成立日期 | 2020-08-28 | 营业期限 | 2020-08-28 至 2050-08-27 |
| 经营范围 | 技术开发;技术咨询;技术交流;技术转让;技术推广;技术服务;软件服务;软件开发;基础软件服务;应用软件服务;计算机系统服务;销售仪器仪表、电子产品、电气设备、实验室设备、化工产品、机械设备;国内贸易代理;技术进出口;货物进出口;代理进出口。(市场主体依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事国家和本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。) | ||
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身份验证
- 营业执照已上传
- 手机已验证
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经营模式
生产加工
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注册资本
500.00万人民币
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企业类型
有限责任公司(自然人独资)
- 主营产品
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公司地址
北京 大兴区 北京市北京经济技术开发区经海四路35号院1号楼4层404-1










