EDX2000A全自动微区膜厚测试仪 是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光膜厚测量技术，专.门研发的一款上照式膜厚测试仪。相比于传统的镀层测厚设备，不仅在常规的传统电镀上表现更加优异，更能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。仪器外观简洁大方，通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统，实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦准确分析。

采用进口高分辨率的FAST SDD探测器，高达140ev分辨率，针对复杂底材以及多层复杂镀层，优.势巨大。

进口的大功***压单元搭配进口大功率X光管，能很好的保障信号输出与激发的稳定性，同时故障率也极.大的降低。

高精度自动化的X轴，Y轴以及Z轴的三维联动，更精.准快速地完成对微小异型（如弧形、拱形、螺纹、球面等）测试点的定位。