天瑞公司92年开始做X荧光光谱仪，在质量管理方面有***质量管理体系，在来料、加工过程、整机、出货各个环节严格把关，确保产品的性能和质量精优。天瑞仪器在检测精度、检测功能、操作便捷性等方面一直保持国内。

    EDX--Thick800是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光测厚仪经验，专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层厚度进行精准检测。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电气、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。

应用领域

电镀行业 

五金卫浴 

电子电器 

航天新能源 

磁性材料 

汽车制造 ......

设计亮点 

全新的下照式设计，一键式的按钮，让您的鼠标 键盘不再成为必须，***减少您摆放样品的时 间。全新的光路系统，大大减少了光斑的扩散，实现 了对更小产品的测试。 搭配高分辨率可变焦摄像头，配合高性能距离补 正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，拱 形，螺纹，曲面等）的异型测试面的精准测试。

硬件配置 

采用高分辨率的SDD探测器，分辨***达140EV 进口的大功***压，让Ag,Sn等镀层的测量能更 加稳定。 配备微聚焦的X光管，犹如给发动机增加了涡轮 增压，让数据的准确性更上层楼。 多种准直器可搭配选择： 0.1*0.2mm；Φ0.15mm;Φ0.2mm；Φ0.3m m。贴心打造出最适合您的那一款。

软件界面 

人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。 曲线的中文备注，让您的操作更易上手。 仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加 放心。

技术参数

测量元素范围：13铝Al~92铀U之间的元素均可测量

同时检测镀层及元素：可同时分析5层以上镀层，并测量24种元素

检出限：金属镀层分析最薄可达0.005μm

厚度范围：分析镀层厚度一般在50μm以内<5%

厚度测试精度含量测试范围：0.1%--99.9%<0.5%

含量检测精度稳定性：多次测量重复性可达1%

检测时间：5-40秒

高压单元：进口大功***压单元

探测器及分辨率：140±5eV大窗口SDD半导体Be窗探测器

***装置：100W高功率微聚光W靶光管

多道分析器：DMCA数字多道分析技术，分析道数4096道

准直器和滤光片标配 ：标配中0.2mm;选配0.1*0.2mm;中0.15mm;中0.3mm或其他孔径

最小测试直径：Al或Ni滤光片中0.1mm

样品观察：工业级高敏感摄像头，图像可放大30倍，实现微小样品清晰定位

样品移动平台：手动高精度移动平台

对焦：手动测距对焦

分析方法：FP法与EC法兼容的镀层厚度分析方法

安全性：平台的凸出设计，开盖停止保护，多重金属及铅玻璃防止辐射，保障用户安全

外型尺寸：497 (W)×427(D)×468(H) mm 

样品室尺寸：415(W)×374(D)×218(H)mm 

操作环境温湿度：0~30℃，湿度≤70%

工作电源：交流220±5V 

结论：

经实测，EDX-Thick800针对镀层厚度分析，尤其是微小样品的厚度检测，有着非常***的稳定性与精密度，去测试效果可以与超高倍数的电子显微测试精度媲美。