| 是否进口:否 | 产地:陕西西安 | 加工定制:是 |
| 品牌:博微 | 型号:BW-3010A | 类型:便携式参数测量仪 |
品牌: 博微电通
名称:晶体管光耦参数测试仪
型号: BW-3010A
用途: BW-3010A型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试。
BW-3010A产品介绍:
BW-3010A型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数”合格/不合格”(OK/NO)判断测试,BW-3010A为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降(VF)和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输比(CTR)等 。中文软件界面友好,简化了系统的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设定,测试条件及数据同步存入EEPROM中,测试条件可以任意设置,测试正向压降和输出电流可达1A,操作简便,实用性强。广泛应用与半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、产品选型等重要检测设备之一。
产品电气参数:
产品信息
产品型号:BW-3022A
产品名称:晶体管光耦参数测试仪;
物理规格
主机尺寸:深 305*宽 280*高 120(mm)
主机重量:<4.5Kg
主机颜色:白色系
电气环境
主机功耗:<75W
环境要求:-20℃~60℃(储存)、5℃~50℃(工作);
相对湿度:≯85%;
大气压力:86Kpa~106Kpa;
防护条件:无较大灰尘,腐蚀或爆炸性气体,导电粉尘等;
电网要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;
工作时间:连续;
服务领域:
半导体光耦参数测试
应用场景:
? 研发分析 : 根据测试数据进行功率器件研发设计阶段的测试分析
?失效分析:失效测试分析,失效机理分析、 过程分析及改善依据
?选型配对:同类型器件参数对比分析、选型参数依据、一致性分析类比
? 来料检验:检验部/质量部(IQC)对出入库器件进行抽检/全检,把控器件的良品率
?量产测试:可与机械手、扫码枪、分选机、编带机、探针台等外部设备联机测试,实现规模化、自动化快速测试
产品特点:
?大屏幕液晶,中文操作界面,显示直观简洁,操作方面简单
?大容量EEPROM存储器,储存量可多达1000种设置型号数.
?全部可编程的DUT恒流源和电压源.
?内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路.
?高压测试电流分辨率1uA,测试电压可达1400V;
?重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题;
?软件自校准功能;
?自动测试测DUT短路、开路或误接现象,如果发现,就立即停止测试;
?DUT的功能检测通过LCD显示出被测器件/DUT的类型,显示测试结果是否合格,并有声光提示;
?两种工作模式:手动、自动测试模式。
BW-3010A主机和DUT的管脚对应关系
型号类型 | P1 | T1 | P2 | T2 | P3 | T3 | P4 | T4 |
光藕PC817 | A | A测试端 | K | K测试端 | E | E测试端 | C | C测试端 |
BW-3010A测试技术指标:
1、 耐压(VCEO)测试指标
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-1400V | 1V | <2%+2RD | 0-2mA |
2、输入正向压降(VF)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2V | 2mV | <1%+2RD | 0-1000MA |
3、反向漏电流(ICEO)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2000uA | 1UA | <5% +5RD | BVCE=25V |
4、电流传输比(CTR)
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-9999 | 1% | 1% +5RD | BVCE:0-20V IF:0-100MA |
5、输出导通压降(VCE(sat))
测试范围 | 分辨率 | 精度 | 测试条件 |
0-2.000V | 2mV | 1% +5RD | IC:0-1.000A IF:0-1.000A |
6、极性识别方式:自动极性转向测试 (自动识别方向)
7、 可分档位总数:10档。
陕西博微电通科技有限责任公司,坐落于古城西安西咸新区沣东新城能源金贸区,是一家专注于高精度半导体测试设备、电力电子设备开发,提供功率半导体器件测试解决方案的集研发、生产、销售于一体的高科技企业。这里区位优势***,科创资源富集,依托西安众多高校及科研院所的技术积淀与人才储备,公司组建起一支覆盖软件开发、硬件设计、系统集成、产品持续迭代及售后服务的高素质专业人才队伍,为技术创新与产品落地筑牢坚实根基。 多年来,公司秉持务实创新的发展理念,深度整合产学研资源,与深圳、西安、杭州等多地高科技企业携手合作,围绕半导体测试、电力电子设备及核心功率器件测试三大核心领域持续攻坚。经过多轮技术迭代与市场验证,公司产品以功能全面、质量可靠、性能稳定的优势赢得广泛认可,在***树立起***的市场***。 在功率半导体测试系统领域,公司产品具备较强的技术竞争力,测试全面覆盖Si/SiC/GaN材料的IPM、IGBT、MOS、DIODE、BJT、SCR等功率器件及光耦、IC的全参数测试需求。产品系列可实现高精度静态参数测试(涵盖导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数,测试精度达16位ADC)、动态双脉冲测试、Rg/UIS/SC/C/RBSOA、可靠性环境老化测试、热特性等多类型测试项目,同时科与各型号探针台、高低温测试、分选机系统等联机集成应用。凭借丰富的测试功能与可靠的稳定性,产品广泛服务于半导体企业测试计量、封装测试、IDM测试、晶圆测试、DBC测试等核心环节,更在科研教学、智能电力、轨道交通、新能源汽车、白色家电等元器件应用端产业链,以及科研院所、实验室的数据验证分析与研发指导中发挥关键作用。 以技术积淀为底气,以客户需求为导向,公司始终将产品质量与服务体验置于重要位置。每一款产品出厂前均经过严苛的厂内检验及第三方机构监测,确保交付品质;针对不同行业客户的差异化需求,提供定制化方案设计与产品迭代升级服务,精准解决客户实际使用痛点与开发难点。我们秉承“博厚共赢、服务入微”的企业理念,以全生命周期的细致服务陪伴客户成长,通过优化生产流程、提升测试效率、降低运营成本,助力合作伙伴实现价值跃升,为国产半导体产业及电力电子领域的高质量发展注入强劲动能。
点击查看>| 统一社会信用代码 | 91611105MACGHHNC7X | ||

