在仅仅三十年的时间里，射频探针技术便取得了惊人的进步，从低频测量到适用多种应用场合的商用方案：如在110GHz高频和高温环境进行阻抗匹配，多端口，差分和混合信号的测量装置，连续波模式中直到60W的高功率测量，以及直到750GHz的太赫兹应用，都能见到射频探针的身影。
奥纳科技销售射频探针，主要是日本muRata村田探针。
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村田探针主要有这几种类型：村田无电缆探针，村田电缆探针，无浮动机构的自动探针，带浮动机构的自动探针，自动探针（无张力型），校准适配器。

村田无浮动机构的自动探针可用于产线大批量测试。探针内置在测量装置内，与连接器加压连接，探针不带夹爪锁固功能，因此不会使连接器受损，探针不带浮动机构，因此测量装置应具备浮动机构。
常用型号有MM126036MM126038MM126048,MM126310等。

村田电缆探针主要用于实验室评估。就是把探针与SMA接口延长了，在中间加了一断细软射频线，长度通常为300mm，测量射频电缆装配探针。配合完成后，探针可凭借与连接器接触点上的夹爪自行站立，配合完成后对探针施加的任何压力都可能导致探针脱落，连接受损或电级剥离。需要细心使用测试。
常用型号有MXHS83QE3000,MXHQ87WJ3000,MXHQ87WA3000,MXHQ87PA3000,MXHQ87PK3000，
MXHQ87PP3000,MXHQ87PN3000等。
其他一些相关的概念
Probepitch：指的是针尖(ProbeTips)之间的间距，一般在50-1000um之间不等。对于毫米波频率的应用，针尖间距一般都比较小。
Probeskate:当你在Z轴方向往下“按压”探针时，当探针接触到DUT，它将在ZY平面弯曲移动。通常，这也是我们判断针是否扎上的一个现象。
De-embeding:去嵌是在探针出现之前就有的技术，之前经常用在一些标准的分立的夹具测试中。