应用

手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量

来料检查

生产测试

过程监视及质量控制

数据报告的生成

元件配对

失效分析

工程测试

交互式程控

所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作参数，包括370A的非

易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。

测试夹具

测试夹具是标准附件，它提供被测器件安全防护，以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001，中间通过Kelvin传

感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。

370A程控特性曲线图示仪

370A是全球*的高分辨率特性曲线图示仪，可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管

、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。

在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作

在制造过程中，用370A检验器件质量及过程监视。

370A可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。

技术指标 集电极电源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范围 *峰值电流（±） 峰值电流（脉冲式）（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 阶梯信号发生器 模式 阶梯：DC,80μS脉冲，300μS脉冲 阶梯量程- 电流： 50nA到200mA，按1-2-5顺序 电压： 50mV到2V，按1-2-5顺序 偏置 *到±10X阶梯幅度 阶梯数 0到10 测量特性 集电极电流- 测试量程： 100nA/p(1nA分辨率）至2A/p误差，1.5%光标读出+0.05p设定值（点光标） 发射极电流- 测试量程： 1nA/p(10pA分辨率）至2mA/p 误差 1.5%光标读出+0.05p设定值+1nA 安全标准 UL1244，CSA231，HD401S1