6433P光波元件分析仪是面向高速电光器件、光电器件及光光器件调制特性测试的仪器，频率范围覆盖10MHz~110GHz，集成电电测试、电光测试、光电测试及光光测试4种测试模式，具有对数/线性幅度、相位、群时延、Smith圆图、极坐标等多种显示格式，能够***测量光电网络的幅/相频特性，主要应用于高速电光器件（电光强度调制器、直接调制激光器、光发射组件）、光电器件（探测器、光发射组件、探测器芯片）及光光器件（光衰减器、EDFA）的带宽、幅/相频、群时延等频响参数的测试。

主要特点

10MHz~110GHz 宽频带同轴覆盖；

最小频率分辨率1Hz；

测试功能丰富，具备传输、反射等多种参数测试功能；

一体化多功能测试界面；

向导式校准及一键式快速扫频测试；

多窗口显示及快速分析；

自动夹具移除，快速获取探针数据；具有USB、LAN等接口和SCPI程控指令集，可实现自动测试

10MHz~110GHz 宽频带同轴覆盖

6433P光波元件分析仪调制频率可达110GHz，最小频率分辨率为1Hz，可实现高速宽频带光器件及光芯片调制特性测试。