FT-A200H/FT-A200HR 是一款高端胶片厚度测量设备，专为高精度连续测量而设计。该设备配备了高精度测量头和放大器单元，能够直接从生产线上切取薄膜并进行实时厚度测量，确保产品质量和生产效率。

核心特点

1. 高精度测量：

• 采用高精度测量头和放大器单元，确保测量结果的准确性和可靠性。

• 测量分辨***达 0.01μm，满足高精度需求。

2. 连续测量：

• 支持从生产线上直接切取薄膜进行连续厚度测量，无需中断生产流程。

• 实时监控厚度变化，确保产品一致性。

3. 宽测量范围：

• FT-A200H：测量范围为 10μm 至 200μm。

• FT-A200HR：测量范围为 3μm 至 100μm，适合更薄材料的测量。

4. 用户友好设计：

• 操作简单，只需将薄膜放入设备即可自动测量。

• 配备直观的显示界面，方便用户查看数据和操作。

5. 数据记录与分析：

• 自动记录测量数据，支持数据导出和进一步分析。

• 提供厚度分布图、统计报表等功能，便于质量控制和工艺优化。

技术参数

应用领域

• 薄膜生产：实时监控薄膜厚度，确保产品符合规格。

• 质量控制：检测厚度均匀性，防止生产缺陷。

• 研发与实验室：用于新材料和工艺的厚度测试与分析。

• 精密制造：适用于超薄材料的厚度测量，如光学薄膜、电子薄膜等。

维护与保养

• 定期校准：建议每三个月进行一次校准，以确保测量精度。

• 清洁测量头：定期清洁测量头，避免灰尘或杂质影响测量结果。

• 检查设备状态：定期检查电源、连接线和机械部件，确保设备正常运行。

注意事项

• 避免在高温、高湿或粉尘较多的环境中使用。

• 操作时请佩戴防护装备，确保安全。

• 如需更换测量头或进行维修，请联系专业技术人员。

总结

FT-A200H/FT-A200HR 是一款功能强大、精度极高的胶片厚度测量设备，适用于薄膜生产和精密制造领域。其高分辨率、宽测量范围和连续测量能力，使其成为质量控制和工艺优化的理想选择。