XT-50冲击试样投影仪主要参数

工作原理

本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体，再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。

根据需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影仪上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。

夏比投影仪V型缺口介绍

由于试样V型缺口要求严格（试样缺口深2mm、呈45o角且试样缺口***要求R0.25±0.25），故在整个试验过程中，试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题，如果试样缺口的加工质量不合格，那么其试验的结果是不可信的，特别是R0.25mm缺口***的微小变化（其公差带只有0.25mm）都会引起试验结果的陡跳，尤其是在试验的临界值时会引起产品报废或合格两种截然相反的结果。为***加工出的夏比V型缺口合格，对缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。