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日本电测DENSOKUCT-4库仑电解式膜厚仪,0.006~300μm、分辨率0.001μm、精度±1%;可测多层/合金镀层(最多5层)、双重三重镍及线材,50组频道、中文界面,符合JIS/ASTM/***/DIN/MIL标准。

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产品特性:高端制造是否进口:是原产国/地区:日本
加工定制:否类型:镀层测厚仪品牌:日本电测
型号:CT-4测量范围:168mm
日本电测CT-4电解式膜厚仪 多层镍合金镀层库仑测厚仪

日本电测 DENSOKU CT-4 电解式膜厚仪(库仑测厚仪)|库仑电解法镀层测厚

1|设备概述

本机为日本株式会社电测(DENSOKU)COULO TECHNOSTER 系列 CT-4 电解式膜厚仪,业内亦称库仑测厚仪、库仑电解式镀层测厚仪,2018 年出厂,设备状态良好。仪器采用库仑电解法(法拉第定律),以恒电流阳极溶解计时法溶解镀层,由溶解电量与时间换算镀层厚度,符合 JIS、ASTM、***、DIN、MIL 等***,适用于金属镀层厚度检测、多层镀层与合金镀层分析、线材镀层测量及实验室镀层厚度比对。

2|测量范围与精度

CT-4 电解式膜厚仪测量范围 0.006~300 μm,最小解析度 0.001 μm(1 nm),本体精度 ±1%,误差校正范围 ±15%,支持 μm、mm、mg(g/㎡)等测量单位。按测点大小可选 A/B/C 三种密封垫圈,对应 ?3.4 / ?2.4 / ?1.7 mm 测量面积,最小测量面积约 ?0.17 mm;电解速度基本 125 nm/s、8 档可调,灵敏度 8~11 段可调,兼顾薄镀层与厚镀层的测厚稳定性。

3|可测镀层:多层镀层、合金镀层、线材镀层

可测金、银、铜、镍、铬、锌、锡、铅、铁等金属镀层,以及化学镍、装饰铬、黑铬等镀层;支持锡锌、锡铅、铜锡、镍钴、镍铁等合金镀层测厚,并可做双重镍、三重镍多层镍分析(加装记录器可做电位差分析)。镀层最多可设定 5 层,每层分别统计计算,可分别测量纯镀层与镍合金层厚度。选配 WT 线材测试器后,可测棒形、细线及 ?6 mm 以下小件镀层;标准测量台适用直径 6 mm 以上圆柱体。

4|中文对话式操作与数据处理

中文 / 日文对话式大屏界面:开机设定镀层与底材组合后,仪器自动显示所需电解液种类(如镍用 K-54、铜用 K-44);用条形弹簧方式专用测量台夹持样品,按测点选择 A/B/C 垫圈,注入对应电解液、确认垫圈紧贴表面无渗漏并开启空气搅拌后启动测量,仪器以恒定电流电解溶解镀层,自动判定终点并显示厚度值。可登录 50 组测量频道,每频道保存 9999 个数据;支持平均值、最小值、上下限、直方图等 5 种统计处理,厚度值可经 RS-232C / USB 传至 Excel,或由专用热感应打印机打印输出。测量结束后清洁电解槽与测头、处理废液并关机记录。

是否进口

是(进口)

产地 / 原产国

日本

生产厂商

株式会社电测(DENSOKU)

品牌

日本电测 DENSOKU

产品系列

COULO TECHNOSTER

型号

CT-4

类型 / 品类

电解式膜厚仪(库仑测厚仪 / 库仑电解式镀层测厚仪)

中文名称

电解式膜厚仪 / 库仑测厚仪

出厂年份

2018 年

设备状态

良好

测量原理

库仑电解法(法拉第定律)

测定方式

恒电流阳极溶解计时法

测量范围

0.006~300 μm

最小解析度

0.001 μm(1 nm)

本体精度

±1%

误差校正范围

±15%

测量面积

A 垫圈 ?3.4 mm;B ?2.4 mm;C ?1.7 mm;最小约 ?0.17 mm

电解速度

基本 125 nm/s,8 档可调

灵敏度调节

8~11 段可调

测量单位

μm、mm、mg(g/㎡)等

镀层设定层数

最多 5 层,每层可分别统计计算

可测金属镀层

金、银、铜、镍、铬、锌、锡、铅、铁;化学镍、装饰铬、黑铬等

可测合金 / 多层镀层

锡锌、锡铅、铜锡、镍钴、镍铁等合金;双重镍、三重镍

可测形状

平板、圆形、棒形(细线);标准台适用 ?6 mm 以上圆柱体,?6 mm 以下需选配 WT 线材测量台

测量频道 / 数据容量

可登录 50 组测量条件;每频道可存 9999 个数据

电解液

按镀层组合自动提示,镍用 K-54、铜用 K-44

显示界面

中文 / 日文对话式,大屏显示

数据统计

5 种统计处理方式;平均值、最小、上下限、直方图

外部输出

RS-232C 传输埠;可经 USB / RS-232C 传至 Excel;附专用热感应打印机

测量台

条形弹簧方式专用测量台

选配件

WT 线材测试器、记录器(多重镍电位差分析)

符合标准

JIS、ASTM、***、DIN、MIL


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