QCM-I耗散型石英晶体微天平是一种高灵敏度质量传感器，可测量石英晶体谐振器和任何吸附膜的频率和耗散变化。 QCM可应用于很多方面：蛋白质，高分子薄膜，生物传感器，化学传感器，腐蚀，聚合物薄膜，纳米颗粒薄膜等。频率和耗散的变化提供了与薄膜质量或弹性变化有关的信息。能够分析分子间的相互作用和表面性质。

测量原理是基于石英晶体的阻抗分析。 确定谐振频率和谐振电导曲线的带宽。 半带宽或全宽，半带宽（FWHM）与质量因子（Q）直接相关，质量因子（Q）定义为耗散的倒数（D）。

同时捕捉到的两个参数F（频率）和D（耗散因子）将绘制吸附物质在表面上排列的状态，以及排列如何随时间变化；一个QCM 芯片的频率响应反映了它表面上耦合质量的变化，包括被困在分子层间的溶剂的质量。耗散反映了薄膜的软硬度。监测这两个作为时间函数的参数，即可对分子是否平躺在表面（刚性膜和水合程度低）；或是伸展构型（软膜和水合程度高）；以及如果有重排，例如溶胀（从平躺到延伸）或塌缩（从延伸到平躺）等这些变化进行检测。

QCM-I特点：

测量谐振的频率和质量（半带宽或带宽或耗散）

可以快速连续地测量不同的谐波（在5MHz晶体上达13次谐波）

包括4°C至80°C（±0.02°C）的温度控制

EC测量模块可选配ITO-QCM传感器

模块化传感器支架，最多4个测量通道该软件可完全控制QCM-I仪器。 有两种测量模式：

共振：共振曲线的测量和共振频率的计算以及高达70 MHz的FWHM

QCM-t：连续测量共振参数和流动池的温度。

计算：可以使用标准或定制模型计算各种QCM和广告层参数。 所有这些参数都可以显示在屏幕上，打印，保存或导出以供进一步评估。