该款紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

特点

* 光谱及角度特性经严格校正

* 数字液晶显示，带背光

* 手动/自动量程切换

* 数字输出接口（USB,冗余供电）

* 低电量提醒

* 自动延时关机

* 有数字保持

* 轻触按键操作，蜂鸣提示

主要技术指标

* 波长范围及峰值波长：(以下两种选其一)

（1）探头：λ：(315～370)nm；λP＝340nm

（2）UV-313探头：λ：(290～340)nm；λP＝313nm

* 辐照度测量范围：

          (0.1～199.9×103) μW/cm2

* 紫外带外区杂光：

UV313：小于0.05%

UV340：小于0.05%

* 相对示值误差：±10%（相对与NIM标准）

* 角度响应特性：±5%(α ≤10°)

* 线性误差：±1%

* 换档误差：±1%

* 短期不稳定性：±1%（开机30min后）

* 疲劳特性：衰减量小于2%

* 零值误差：满量程的±1%

* 响应时间：1秒

* 使用环境： 温度(0～40)℃，湿度＜85%RH

* 尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg

* 电源： 常规使用6F22型9V积层电池一只

 亦可使用数据线连接USB接口、5V电源适配器供电

        整机功耗         ＜0.1VA