1、概述

STY-3型导电型号测试仪是严格按照SEMI MF42-1105、GB/T 1550-1997（非本征半导体材料导电类型的标准测试方法）中的热探针法及整流导电类型测试方法设计的导电类型鉴别仪。

本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在4060℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势及整流法产生的电势差经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用液晶显示器件（LCD）显示及检流计指示型号方向。仪器灵敏度分高、低两档，可在 的电阻率（从高阻单晶到重掺单晶）范围内判别半导体材料型号。

2、技术参数

（1）可判别锗、硅材料的电阻率范围：

锗：非本征锗～104Ω·cm 硅：10４～10-4Ω·cm

经国内外 在室温情况下，热电法对于电阻率低于1000Ω·cm的硅单晶测量结果可靠；在室温情况下，整流法对于电阻率1－1000Ω·cm的硅单晶测量结果可靠

（2）锗、硅单晶直径及长度：不受限制

（3）显示方式：由显示N和P的液晶器件直接指示，同时中心刻度为零位指示器也在指示型号，指针向左偏转被测样品为N型，指针向右偏转被测样品为P型

（4）探针：先用SEMI MF42-1105标准中建议的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60℃锥体，热笔温度自动保持在4060℃范围内，冷笔与室温相同。整流法 硬质合金作探针

（5）电源及功耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，功耗（热笔加热状态）小于40W，平均功耗≈10W

（6）外型尺寸：370×320×110（mm）

（7）重量：约5.3 kg

1、概述

STY-2R型导电型号测试仪是严格按照 SEMI MF42-1105及GB/T1550中的全类型整流法设计生产。

本仪器将三根测试探针做成测量探头，任意两根针之间绝缘度大于500MΩ，每根探针均有独立伸缩和加压机构，因此样品上无需制备电极。

探针与半导体材料上产生的整流电势差经低噪声、低飘移集成运算放大器放大后，用液晶显示器件直接指示型号。

2、技术参数

（1） 确认：可准确判别硅材料导电型号的电阻率范围：0.05～1000Ω·cm

（2）本仪器实际可测量硅材料电阻率范围：10-2～104 Ω·cm

（3）可测线度大于5mm的任意形状的硅块和硅片，样品长度、直径不受限制

（4）显示方式：由显示N和P字样的液晶器件直观指示半导体材料型号

（5）探针采用 的碳化钨硬质合金，直径0.8mm，每根针有独立的加压机构，压力可在50～500克（单针）范围内根据用户需要进行调整

（6）探针间距：1.59mm（探针直径0.8 mm）或1.00 mm（探针直径0.5 mm）

（7）外型尺寸：210×100×230（宽×高×深，单位mm）

（8）重量：约3kg

（9）电源：交流 220V±10%，50HZ。功耗≤20W

1、概述

STY—1型导电型号测试仪是严格按照SEMI MF42-1105、GB/T 1550-1997（非本征半导体材料导电类型的标准测试方法）中的热探针法设计的导电类型鉴别仪。

本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在40-60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势，经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用宽表面检流计指示型号方向，并可定量测出热电流的数值大小。仪器灵敏度可调，可在 的电阻率（从高阻单晶到重掺单晶）范围内判别半导体材料型号。

2、技术参数

（1）可判别锗、硅材料的电阻率范围：

锗：非本征锗～10-4Ω·cm ，硅：103～10-4Ω·cm

在室温情况下，对于电阻率低于1000Ω·cm的N型和P型硅，本方法结果可靠。

（2）热电流测量范围：0～±1μA 分六个量程：

±3nA、±10nA、±30nA、±100nA、±300nA、±1μA

大偏转灵敏度：1×10-11A/格

（3）锗、硅单晶直径及长度：不受限制。

（4）显示方式：中心刻度为零位的宽表面指针指示器，指针向正方向偏转被测样品为P型，指针向负方向偏转被测样品为N型。

（5）探针 SEMI MF42-1105标准中建议的不锈钢作探针材料，针尖为60°锥体，热笔温度自动保持在40-60℃范围内，冷笔与室温相同。

（6）电源及功耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，耗电小于10W。

（7）外型尺寸：170×160×230（mm）

（8）重量：约2.5kg

1、概述

STY-2导电型号测试仪是严格按照SEMI MF42-1105、GB/T 1550-1997（非本征半导体材料导电类型的标准测试方法）中的热探针法设计的便携式导电型号鉴别仪。

本仪器热探笔内装有加热控温组件，自动加热并使温度保持在40-60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势，经集成运算放大器放大后，用液晶器件直接显示N型或P型。

2、技术参数

（1）可判别锗、硅材料的电阻率范围：

锗：非本征锗～10-4Ω·cm 硅：103～10-4Ω·cm

（2）锗、硅的形状不受限制

（3）探针：测量硅单晶的型号仪， SEMI MF42-1105标准中 的不锈钢作冷热探针材料，针尖为60°锥体；测量锗单晶的型号仪 铅做探针材料

（4）电源及功耗：AC220V，50HZ交流电供电，功耗：30W

（5）外型尺寸：210×100×230（宽×高×深 单位：mm）

（6）重量：3kg

公司承诺：质量服务承诺：

1 期一年，终生免费维护。

2.在 期内，除人为因素外，任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、故障我们免费修理或更换。

3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后，十分钟内回应.

4 及时向用户以优惠的提供所需的备品备件和易