产品介绍日本 ONOSOKKI（小野测器）CL-5610/5610S 是电容式非接触测厚仪，原装进口全新正品。搭配 VE 系列电容间隙传感器，可非接触测量导体、半导体、绝缘体厚度，支持双传感器双通道测量，适用于精密薄膜、板材、晶圆等离线 / 在线无损检测。

• 非接触无损测量：电容式原理，无机械接触，不损伤超薄 / 软质材料（如锂电池极片、光学膜）。

• 多材质兼容：标准测导体 / 半导体；选件 CL-0300 可测塑料薄膜、玻璃等绝缘体Ono Sokki。

• 双机型适配场景：

• CL-5610：内置放大器，传感器线长 1.5m，适合台式离线检测。

• CL-5610S：外置放大器，主机 - 放大器标准 2.5m（可选 10m），适合设备集成 / 在线产线。

• 超高分辨率：标配 1μm，选件 CL-0200 可达0.02μm，满足纳米级厚度管控Ono Sokki。

• 双通道 + 丰富功能：可接 2 个传感器，同时测两点厚度；含 / 最小 / 差值统计，适配品质管控