0.6N 恒定标准测力，超薄隔膜无挤压变形固定 0.6±0.1N 探头压力，测量锂电 20μm 以内超薄隔膜、软电极涂层不会压薄样品；区别普通千分尺人为施压差异，重复测量误差极小，符合锂电隔膜行业检测标准 ASTM D3767。

0.03~3mm 全域量程，覆盖超薄隔膜至 PVB 厚膜可测 14~30μm 锂电隔膜、铜铝电极涂布层、0.3~3mm 夹层 PVB 膜，一台设备覆盖新能源、光学玻璃两大行业薄膜检测需求，无需多台测厚仪切换。

自动送料多点连续扫描，消除人工测量误差设备自动走料分段采集，最小 1mm 步进间距，最长支持 10 米卷材全程扫描；完整输出幅面厚度波动曲线，雷达分布图直观展示厚薄分布缺陷，快速优化涂布、辊压工艺参数。

卷曲薄膜直接夹持测量，无需展平预处理V 型定位夹持机构，带卷曲、翘曲卷材无需人工压平即可上机测量；适配收卷半成品离线抽检，省去裁剪、展平工序，大幅提升实验室质检效率。