二度星卡

产品编号：20261105-8

以下信息仅供参考，详细技术参数请直接咨询廊坊玉双仪器设备有限公司。

产品定位：放射影像几何畸变与中心一致性检测用星卡（二度辐射状靶），用于评估 X 线系统非线性失真、焦点偏移与探测器像素畸变。

核心技术特点：PMMA 基板蚀刻/嵌铅制双向辐射状条纹，从中心向外呈 2° 间隔放射排布，并叠加同心圆与十字基准。一次曝光即可观察条纹弯曲、断裂与偏心，定性+半定量判断枕形/桶形畸变、光野中心偏移与几何放大误差。边缘对比强、半影小、可重复曝光。

关键规格：直径 100–300mm；2° 辐射线；铅/钨显影；选配定位环与校准报告。

核心价值与应用场景：“看影像扭没扭的星图”。用于 DR、乳腺机、CBCT、DSA 几何校正、设备维修后畸变复检、探测器像素标定。

质保期限：12 个月。定制服务：按直径、角度密度、显影材质与定位结构定制。

特别提示：中心须对射线束；读取时区分几何畸变与散射半影。以上信息仅供参考，订购产品请咨询厂家！