A3 反射式膜厚测量仪可用于测量半导体镀膜，手机触摸屏 ITO 等镀膜厚度，PET 柔性 涂布的胶厚等厚度，LED 镀膜厚度，建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。

A3可用于测量 2 纳米到 100 微米的膜厚，测量精度达到 0.1 纳米。 

在折射率未知的情况下， A3 还可用于同时对折射率和膜厚进行测量。此外，A3还可用于***测量样品 的颜色和反射率。样品光斑在 1 毫米以内。 A3进行测量简单可靠，实际测量采样时间低于 1 秒。

配合我们的 Apris SpectraSys 软 件进行手动测量，每次测量时间低于 5 秒。

Apris SpectraSys 支持 20 层膜以内的模型并可对 多层膜厚参数进行测量。Apris SpectraSys 软件还拥有近千种材料的材料数据库，同时支持 函数型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光学（Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz）,混合型 （Maxwell Garnett, Bruggeman）EMA 等折射率模型。 同时，客户还可以通过软件自带数据库对材料，菜单进行管理并回溯检查测量结果。 

应用：

膜层范例

基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。

这包括几乎所有的电介质与半导体材料，例如：

反射膜厚测量仪
型号：A3-100；波长范围：380 - 1000 nm；测量范围：10nm-100um
型号：A3-200；波长范围：250 - 1000 nm；测量范围：2nm-100um
型号：A3-300；波长范围：700 - 1200 nm；测量范围25nm-1mm
光斑尺寸：0.4 - 2 mm
膜厚测量范围1nm到1毫米
测量反射率，膜厚，颜色，折射率

透射测量仪
型号：T3-ST-100：波长范围380 - 780 nm
型号：T3-ST-200：波长范围250 - 1000 nm
光斑尺寸：0.4 - 2 mm
膜厚测量范围1nm到1毫米
测量透射率，膜厚，颜色，折射率