产品名称：ETAMax反射率测量系统OPM-300T

产品型号：OPM-300T

产品介绍：

ETAMax反射率测量系统OPM-300T 是一款高精度、功能全的反射率测量仪器，适用于光学薄膜、显示、玻璃、太阳能、塑料等行业及科研教育领域。

ETAMax反射率测量系统OPM-300T 基于***的光学原理设计，通过向样品发射特定波长的光线，并测量透射光与反射光的强度，从而准确计算出材料的反射率。该系统具备高精度、宽光谱测量能力，可满足不同行业对反射率测量的高要求。

性能特点：

? 多槽样品装载托盘（320×320 毫米）系统，所有轴均由伺服电机驱动，可自动移动槽位/定位，并支持可变入射角调节 （300T 系列为 0-45?，300R 系列为 5-35?），适用于薄膜/玻璃类光学滤光片。

? 每次测量均进行自动参考值校验。（T%测量使用空气，Abs. R%测量使用已知高/低值的样品）

? 在R%结果图上叠加用户预设规格，以辅助判断产品品质。

? 高速X-Y映射功能，用于检查整个样品区域的均匀性。

? OPM系列***“反向入射角补偿”功能，可补偿因基板表面弯曲导致的入射角误差，该误差可能导致截止波长判断错误。

? 除样品移动时间外，每个测量点的约节拍时间为2秒（OPM-300T），1秒（OPM-300T-IRBF/OPM-300R）。

技术参数：

产地：韩国

系列：OPM系列

硬件概述：

4轴电动载物台（XY、托盘、R轴）

自动调节入射角（可变入射角范围：300T、300T-IRBF：0-45°，300R：5-35°）

测量范围：350-1300 nm

CCD像素分辨率

***级：约0.43 nm

No.2级（1100 nm起）：约2.34 nm

光源：紫外灯、卤钨灯

测量项目：T(R)n% 下的波长、n 波长下的 T(R)%、T(R) 平均/max/min值、斜率、不同入射角下的波长差

重复性/再现性

与λ相关项目：***项 ≤±0.3 nm，第2项（仅有300T） ≤±1 nm

与T%相关项目：≤±0.4%

软件概述：

操作员、工程师、维护模式

通过用户配方实现映射与多点测量功能

测量能力（1点/滤光片，1角度）：约216,000件/月（24小时×30天）

工作环境：

15-35℃

<85% 相对湿度（无冷凝）

尺寸（宽×深×高）：1230 × 1515 × 1142 mm

重量：约 <400 kg

电源规格：单相，220 V，15 A